本文標題："全息照像立體測量計數(shù)簡介-光學影像測量顯微鏡"

全息照像立體測量計數(shù)簡介-光學影像測量顯微鏡

利用干涉測量法進行立體測量，叫做全息照像干涉測量技術。
    我們來探討一下它的實質(zhì)。
    如果把全息圖放在它原來曝光的地方，而將物體拿走，則曝光時
由物體散射的光波可以再現(xiàn)。如果不拿走物體，那么可以看到兩個光
波：一個是由物體直接散射的，另一個是全息圖再現(xiàn)的。

    這些光波發(fā)生相干而且可能干涉。如果在攝取全息圖和觀察物體
之間的間隔時間內(nèi)，發(fā)生了某些變化，例如發(fā)生了變形，它立刻就反
映到被觀察的圖象一物象上，顯示出分裂的干涉條紋。這樣，就可以
使不同時間形成的兩個光波互相干擾。

    全息照像干涉測量技術，可以研究任何形狀和任何光學性質(zhì)的物
體。因為標準的光波是由被研究物體本身在原始狀態(tài)造成的，而干涉
圖象是由那些和物體一起發(fā)生的幾何形狀變化和相位變化所決定的。

    如果在記錄全息圖之后，物體表面沒有發(fā)生顯著的變化，則可以
見到那些相當于物體在空間位置變化的正規(guī)干涉圖象。這些變化是與
物體一起發(fā)生的。如果物體表面形狀有顯著的變化，就不能看到這些
干涉條紋。因為由一點到另一點的光程變得雜亂無章了，所以相應的
干涉圖象的組織也是不規(guī)則的，它的空間頻率很高。由于這個原因，
以及物體在兩個比較狀態(tài)中，其表面形狀發(fā)生明顯的變化時，例如，
表而上涂了漆或經(jīng)過化學腐蝕時，全息照像干涉測量技術就不能比較
各種發(fā)散的透明物體和反射物體了。但是，當物體表面形狀發(fā)生變化
時，可利用減少條紋的對比度，來觀察這種變化的特性，例如，用于
觀察腐蝕過程。
 

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