本文標(biāo)題："冰糖狀斷口微觀多面體(晶粒)顆粒計(jì)量顯微鏡"
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冰糖狀斷口微觀多面體(晶粒)顆粒計(jì)量顯微鏡
冰糖狀斷口
冰糖狀斷口是脆性沿晶斷口的微觀斷口學(xué)名稱。在宏
觀上，粗大晶粒材料的脆性沿晶斷口呈顆粒狀，細(xì)小晶粒材料
則呈結(jié)晶狀，斷口表面表面粗糙度儀、顏色深淺、有無金屬光澤視產(chǎn)
生原因而定。微觀斷口顯示為多面體(晶粒)顆粒，多面體表面
光滑，沒有或很少塑性變形痕跡
延遲斷裂
延遲斷裂又稱為靜態(tài)疲勞或滯后破壞。所謂延遲斷裂
，就是材料在低于屈服強(qiáng)度的較低拉應(yīng)力作用下，經(jīng)過一段時(shí)
間后突然發(fā)生的斷裂。延遲斷裂的主要特點(diǎn)是：(1)存在上下臨
界應(yīng)力極限，施加應(yīng)力大于上限應(yīng)力，發(fā)生過載斷裂；低于下
限應(yīng)力(也稱做靜態(tài)疲勞極限)，不發(fā)生延遲斷裂；上下臨界應(yīng)
力值之間才是發(fā)生延遲斷裂的應(yīng)力范圍。(2)即使應(yīng)力大于下限
應(yīng)力，也要潛伏一段時(shí)間后才能發(fā)生斷裂。
白點(diǎn)(Flakes)
白點(diǎn)是氫損傷的表現(xiàn)形式之一，它是由氫和內(nèi)應(yīng)力共同作
用造成的內(nèi)裂，在低倍試片上表現(xiàn)為細(xì)裂紋，故又稱做發(fā)裂。
鋼中過飽和的固溶氫，在鋼中缺陷部位，如微裂紋、夾雜物等
位置聚集，進(jìn)而結(jié)合為分子氫，隨著氫分子數(shù)量的增加，對(duì)裂
紋壁產(chǎn)生巨大張壓力，加上內(nèi)應(yīng)力的作用，便在鋼中產(chǎn)生一些
內(nèi)裂紋，這就是自點(diǎn)。白點(diǎn)多在鍛件或軋制件中產(chǎn)生。白點(diǎn)宏
觀表現(xiàn)為白色的圓形或橢圓形亮斑。微觀斷口鍛軋后未經(jīng)熱處
理的白點(diǎn)表現(xiàn)為解理或準(zhǔn)解理斷口，鍛軋后經(jīng)受熱處理的白點(diǎn)
表現(xiàn)為浮云狀斷口。白點(diǎn)一經(jīng)形成便很難消除，因此帶白點(diǎn)的
部件應(yīng)報(bào)廢。
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